植入了心脏节律管理设备的人群中房性心动过速和心房颤动发作登记研究（RATE）显示，心脏节律管理设备人群房性心动过速或心房颤动（AT/AF）越长则不良事件风险越高。

Steven Swiryn博士（伊利诺伊州芝加哥西北大学）在美国心脏学会(AHA)2012科学会议上公布的RATE结果显示，仅出现短暂性AT/AF发作的心脏节律控制设备患者的不良事件风险与发生过AT/AF的患者相同。然而，Swiryn公布的数据显示，植入式心律转复除颤器（ICD）和心脏起搏器患者AT/AF发作越长则临床AT/AF住院风险就越高。此外，ICD患者AT/AF发作频率越高，则任何不良事件风险及AF住院风险越高。

Bernard Gersh博士（明尼苏达州罗切斯特的梅奥诊所）在RATE介绍中指出，RATE结果似乎可证实ASSERT发现，即亚临床房性心律失常在心脏起搏器植入患者中常见，并可显着预测卒中或全身性栓塞。

Gersh指出，是一种重要的贡献，可能会真正改变我们的临床实践。引述梅奥诊所的长期数据显示，卒中往往是房颤首发临床表现，他建议，AF风险患者可能需要甚至在出现心律失常症状前接受治疗来预防卒中。

发作时间越长，发作风险越高

短暂发作定义为AT/AF起止于一个心电图区间，而长期发作则持续一个区间以上。

心脏起搏器患者多因素Logistic回归分析表明，与无AT/AF发作患者相比，AT/AF发作时间较长患者的所有不良事件（包括AF住院治疗、心力衰竭、室性心动过速、卒中或短暂性脑缺血发作、晕厥或医院心源性猝死）风险较高（OR1.84）。AT/AF发作时间长与AF住院或心脏衰竭住院之间的关联，未达到统计学意义。与无发作患者相比，仅AT/AF短期发作患者的不良事件风险未见升高。

ICD患者中，长时间AT/AF发作的患者的所有不良事件风险比无发作患者高（OR1.56）。ICD患者中长时间AT/AF发作明显与AF住院治疗风险较高相关（OR5.86）。ICD患者短期AT/AF发作与风险升高无关。

此外，AT/AF发作次数高于中位数的ICD患者的全部不良事件发生率好于发作次数低于中位数的患者。尤其是对于AF住院治疗，AT/AF发作频繁程度越高与心脏衰竭住院风险越高之间无显著统计学意义。

Gersh建议称，对AT/AF发作持续时间进行更多的特异性检测将会更好的了解“房颤负荷”。

他问到，如果发作时间持续50小时，这意味每小时发作50次吗？我们需要试着去理解这些数字，因为毫无疑问，我们在使用上述仪器时，我们将来会看到越来越多的无症状性心房纤颤。他补充说，进一步的研究可能会发现AF风险患者无临床症状性房颤发病率明显较高，但考虑抗凝以预防卒中的ICD或起搏器植入患者则不然。